Year: 2017
Journal: Biol. Membr., Volume 34, MAY-JUN, page 215–222
Authors: Gulin, A. A.; Pavlyukov, M. S.; Gusev, S. A.; Malakhova, Yu. N.; Buzin, A. I.; Chvalun, S. N.; Aldarov, K. G.; Klinov, D. V.; Gularyan, S. K.; Nadtochenko, V. A.
Keywords: mass spectrometry; TOF-SIMS; quantitative analysis; Langmuir Blodgett films; ion beam etching