Year: 2019
Journal: Mater. Sci. Semicond. Process, Volume 91, MAR, page 296–305
Authors: de Lima Citolino, Lucas Vinicius; da Silva, Edilene Assuncao; Olivati, Clarissa de Almeida
Organizations: Brazilian agency FAPESP (Fundacao de Amparo a Pesquisa do Estado de Sao Paulo)Fundacao de Amparo a Pesquisa do Estado de Sao Paulo (FAPESP) [2014/13739-7]; Brazilian agency INEO/CNPq (Instituto Nacional de Eletronica Organica/Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientifico e Tecnologico); Brazilian agency CAPES (Coordenacao de Aperfeicoamento de Pessoal de Nivel Superior)CAPES
Keywords: Thin films; Langmuir-Schaefer; Polythiophene; Electrical impedance spectroscopy; Structure-property relations